Normal view MARC view
  • Electron beam, Backscattered & secondary electrons, X-Rays, Scanning, Image formation

Electron beam, Backscattered & secondary electrons, X-Rays, Scanning, Image formation(Topical Term)

Number of records used in: 2
Preferred form: Electron beam, Backscattered & secondary electrons, X-Rays, Scanning, Image formation

Machine generated authority record.

Work cat.: (OSt): Joseph I.Goldstein. 40265, Scanning electron Microscopy and X-Ray microanalysis., 2018

Эрүүл Мэндийн Шинжлэх Ухааны Төв Номын Сан
ХАЯГ: Анагаахын Шинжлэх Ухааны Үндэсний Их Сургууль, С.Зоригийн гудамж, Ш/Х-48/111 Улаанбаатар хот 14210, Монгол Улс
УТАС: 11-320623| И-МЭЙЛ: library.support@mnums.edu.mn|ВЕБ: mnums.edu.mn