Normal view MARC view ISBD view

Scanning electron Microscopy and X-Ray microanalysis.

   Joseph I.Goldstein.
                  Scanning electron Microscopy and X-Ray microanalysis. - 4-th edition - Springer 2018

English

                 Түлхүүр үг: Electron beam, Backscattered & secondary electrons, X-Rays, Scanning, Image formation,

Subjects--Geographic Terms:
Analysis of speciments with special geometry

Place hold
Print
Cite
Add to your cart (remove)
Save record
BIBTEX Dublin Core MARCXML MARC (non-Unicode/MARC-8) MARC (Unicode/UTF-8) MARC (Unicode/UTF-8, Standard) MODS (XML) RIS ISBD
More searches

Search for this title in:
background-color:#0054a6;

Эрүүл Мэндийн Шинжлэх Ухааны Төв Номын Сан
ХАЯГ: Анагаахын Шинжлэх Ухааны Үндэсний Их Сургууль, С.Зоригийн гудамж, Ш/Х-48/111 Улаанбаатар хот 14210, Монгол Улс
УТАС: 11-320623| И-МЭЙЛ: library.support@mnums.edu.mn|ВЕБ: mnums.edu.mn